来源：Silicon Semiconductor

Test Research, Inc. (TRI) 推出了TR7600 SV系列。

3D AXI突破性的性能比其前一代、屡获殊荣的TR7600系列提高了20%。

TR7600 SV具有7 µm分辨率，可保证高分辨率和高良率检测。TRI的AXI配备了AI算法，优于常用的基于灰度的算法。AI算法可以准确检测空洞缺陷。

从汽车电子到电信和高通量生产领域等行业都将受益于TR7600 SV系列的快速图像重建和缺陷检测功能。TRI的X射线检测解决方案在检测时将样品固定在传送带上，防止进一步损坏。该系统提供可调节的成像参数，用于定制检查和在线微调功能。

TR7600 SV支持当前的智能工厂标准，包括IPC-CFX、IPC-DPMX和Hermes标准 (IPC-HERMES-9852)。

扫码阅读原文

【近期会议】

10月17日14:00，即将举办“高可靠性GaN功率器件推动太阳能、DC/DC转换和电机驱动的创新应用”主题会议，诚邀您踊跃参与云上知识盛宴：https://w.lwc.cn/s/7r6jea

11月1日-2日，雅时国际商讯联合太仓市科学技术局即将举办“2023化合物半导体先进技术及应用大会”。诚邀您相聚江苏太仓，筑创产业新未来。听众注册：https://w.lwc.cn/s/yqMZ7f