BusinessNews
  • 首页
  • 英文版
  • 电子读物
    • 期刊
    • 焦点
  • 晶芯研讨会
  • 白皮书
  • 人才对接
  • 采购供需
  • 多媒体
    • 视频
    • 图集
  • 媒体信息
    • 投稿指南
    • 2026年媒体信息
  • 关于我们
    • 联系我们
    • 加入我们
  • 捷径:
  • 新闻动态
  • 采访报道
  • 制造与封装
  • 设计与应用
  • 设备与材料
  • 产业与市场
  • 产品特写
  • 展会与活动

当前位置:

     首页 > 新闻资讯  > 新闻动态

赛默飞世尔在SEMICON China 2018上推出分析新产品

2018/3/14 21:06:03

赛默飞世尔科技公司在 2018 年中国国际半导体工业技术展上展示可实现加速、
创新和提高制造厂及实验室生产力的新解决方案 

新产品专注于用于故障分析和过程控制的高级分析功能 

2018 年 3 月 14 日,科学服务领域的世界领导者赛默飞世尔科技公司宣布推出可改进半导体制造的质量控制以及提高其产量的新产品。这些新产品将于 2018 年 3 月 14-16 日在上海举办的中国国际半导体工业技术展上进行展示(N5 展厅 5619 号展位)。

“赛默飞世尔根深深扎根于用于控制半导体和显示屏制造领域的制造工艺以及诊断工艺和产品故障的根本原因的先进分析技术,”赛默飞世尔半导体事业部副总裁兼总经理 Rob Krueger 说。“本周,我们将推出新产品,帮助推动亚洲(特别是中国)半导体制造能力的快速创新和持续扩张。”


Verios G4 极高分辨率 SEM

Verios_G4_UC_SEM_product_image_002.png

Thermo Scientific Verios G4 极高分辨率 (XHR) 扫描电子显微镜 (SEM) 提供确定缺陷、成品率损失以及工艺和产品故障的根本原因所需的功能和灵活性。

“Verios G4 是从我们 DualBeam(聚焦离子束/SEM)仪器大获成功的 Helios 系列衍生出来的纯 SEM 解决方案,”Krueger 说。“该产品可在各种条件下提供行业领先的性能,尤其是在先进工艺中使用的电子束敏感材料所需的低电压条件下。”


Hyperion II 快速高效的纳米探针


hyperionII.41.png

纳米探针可以对各个晶体管进行直接电气测量。新型 Thermo Scientific Hyperion II 是唯一一款基于原子力显微镜 (AFM) 的商用纳米探针,它消除了基于 SEM 的纳米探针的真空要求和电子束/样本相互作用。Hyperion II 的自动化操作和成像模式旨在提高速度和易用性。此外,其精确定位电气故障的能力可提高后续 DualBeam 或 TEM 分析的速度和效率。


用于快速可靠的化学监测的 iCAP TQs ICP-MS


113352 ThermoFisher-574-ST1.png

Thermo Scientific iCAP TQs 电感耦合等离子体质谱仪 (ICP-MS) 是成熟的 iCAP TQ ICP-MS 的专用半导体版本。它能够快速、可靠且可重复地测量超高纯度 (UHP) 化学品中的低浓度污染物,以支持先进的半导体制造工艺的自动化在线监测和统计过程控制。iCAP TQs ICP-MS 在单个高性能解决方案中将超低浓度检测和简便性提高到全新的水平。利用这个全新系统,现在可以将化学分析从实验室迁移到制造厂,并实现在线控制化学浴,从而缩短响应时间。

 

关于赛默飞世尔科技公司

赛默飞世尔科技公司是科学服务领域的世界领导者,公司年销售额 200 亿美元,在全球拥有超过 70,000 名员工。我们的使命是帮助客户让世界变得更健康、更清洁、更安全。我们的产品和服务帮助客户加速生命科学领域的研究,解决在分析领域所遇到的复杂问题与挑战,促进医疗诊断发展,以及提高实验室生产力。凭借我们的一流品牌 – Thermo Scientific、Applied Biosystems、Invitrogen、Fisher Scientific 和 Unity Lab Services,我们可提供无可匹敌的创新技术、便捷采购方案和全面支持。有关更多信息,请访问 www.thermofisher.com




声明:本网站部分文章转载自网络,转发仅为更大范围传播。 转载文章版权归原作者所有,如有异议,请联系我们修改或删除。联系邮箱:viviz@actintl.com.hk, 电话:0755-25988573

上一篇:技术创新引领半导体行业新发展 泛林集团亮相SEMICON China 2018

下一篇:戈尔亮相SEMICON CHINA 2018聚焦提高半导体制程洁净度和可靠性

相关资讯

              暂无相关的数据...

本期内容

2026年 夏季刊

订阅期刊

过刊查询

efocus

赞助商

友情链接
回到顶部

Copyright© 2026:《半导体芯科技》; All Rights Reserved.      粤公网安备 44030402004707号   粤ICP备12025165号-7     服务条款     隐私声明