Microchip推出全新SAR ADC系列产品，在恶劣环境中依然可实现高速、
高分辨率模数转换

12款全新器件专为高温和电磁工作环境设计，

为业界唯一符合AEC-Q100标准，采样速率达1Msps的16位逐次逼近寄存器（SAR）

Microchip Technology Inc.（美国微芯科技公司）今日宣布推出12款全新逐次逼近寄存器（SAR）模数转换器（ADC）以及专为新型SAR ADC产品系列设计的配套差分放大器，以满足应用市场对更高速度和更高分辨率模数转换的需求。MCP331x1（D）-xx系列产品专为高温和高电磁工作环境而设计，其中包括业界唯一一款符合AEC-Q100标准且采样速率达每秒100万次（Msps）的16位SAR，可为汽车和工业应用提供必不可少的可靠性。MCP6D11差分放大器提供低失真、高精度接口，可在系统内实现ADC的全部性能。

MCP331x1（D）-xx系列产品分辨率范围包括12、14和16位，速度选项范围从每秒50万次采样（ksps）至1 Msps不等，可为开发人员提供适合其设计的ADC。该系列ADC能够在1.8V固定低模拟电源电压（AVDD）及低电流运行（1Msps下的典型有效电流为1.6 mA，500 ksps下为1.4 mA），同时具有超低功耗及满量程输入范围。

以上器件支持宽广的数字I/O接口电压（DV_IO)）范围（1.7V - 5.5V），可直接与Microchip PIC32、AVR^®和基于Arm^®的单片机和微处理器等大多数主器件连接，无需使用外部电压电平移位器。MCP331x1（D）-xx系列包含单端和差分输入电压测量选项，能够为系统实现两个任意波形之间的差异的转换。AEC-Q100认证系列在恶劣环境下依然能够提供可靠的性能，是高精度数据采集、电动汽车电池管理、电机控制和开关电源等应用的理想选择。

在不引入额外噪音和失真的情况下，将小模拟信号正确连接到高速、高分辨率ADC是一项巨大的挑战。 Microchip的MCP6D11差分放大器专为应对这一挑战而设计，为正确驱动ADC提供低失真和高精度的接口。

Microchip混合及线性信号产品部副总裁Bryan J. Liddiard表示：“ADC市场和应用的发展需要更高分辨率、更高速度和更高精度。此外，更低的功耗和更小的封装也非常重要，我们新推出的这些产品可满足以上全部需求。”

开发工具

MCP331x1D-XX评估工具包可用于演示MCP331x1D-XX SAR ADC系列器件的性能。该评估工具包含有：

·         MCP331x1D评估板

·         用于数据采集的PIC32MZ EF MCU Curiosity开发板

·         SAR ADC 实用工具 PC图形用户界面（GUI）