技术趋势
AUDIRA 系统旨在为先进存储器和逻辑器件中的掩埋特征和缺陷(如空洞)提供高精度和精确的纳米级测量。借助AUDIRA,Nearfield Instruments公司的目标是在...
模拟/ 混合信号晶圆代工厂X-FAB Silicon Foundries宣布,其光学传感器产品平台再添新成员——为满足新一代图像传感器性能的要求,X-FAB 现已在其备受欢迎...
Keren Bergman在 IEEE 第 74 届电子和元件技术会议 (ECTC) 上,进行了一次主题演讲,介绍了将光子芯片与电子端、计算和内存以及计算系统边缘的其他组件更...
Ansys公司最近与台积电和微软合作开发联合解决方案,该解决方案为分析2.5D/3D-IC多芯片系统中的机械应力提供了高容量云解决方案,使共同客户能够避免现场故障...
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